X射线透视检查装(zhuang)置提供了(le)无损(sun)观察(cha)物体内部(bu)结构的(de)方法，是检测工(gong)业(ye)产品(pin)失效原因的(de)有效工(gong)具。

X射线可有效(xiao)观察肉眼所不能看到的树脂密封的集成电(dian)路的内部，例(li)如变形、裂缝、气泡、焊点(dian)连接情况。

通过这种便捷(jie)的非破(po)坏(huai)方法，得到计算机断层图像和3D结构图像，来观(guan)察物体的内部(bu)结构、进行尺寸测(ce)量(liang)和密度(du)检测(ce)。这些装(zhuang)置(zhi)成为失效分析和质(zhi)量(liang)控制的强大工(gong)具。

X射线透视装置

X射线透(tou)视装(zhuang)置(zhi)可(ke)以得到简单的非破坏(huai)断层图像和(he)物体内部的3D图像。来(lai)观察(cha)物体的内部结构(gou)、进行(xing)尺(chi)寸(cun)测量(liang)和(he)密度检测。这些装(zhuang)置(zhi)成为失效(xiao)分析和(he)质量(liang)控制(zhi)的强(qiang)大工具(ju)。