UV-NIR分光光度(du)计可精(jing)确测量(liang)从近红外区至紫外区的(de)宽波(bo)长范围的(de)透射光谱(pu)和反射光谱(pu)。
在(zai)该实例(li)中，UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度计用于测量CD基片(pian)的透(tou)射光谱和硅片(pian)反射光谱。
CD基片的透射光谱
硅片的反射光谱
UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度计
UV-3700可(ke)(ke)实现大样品的(de)无损测量(liang)，并可(ke)(ke)在宽波长范(fan)围（从紫外(wai)到红外(wai)）内测量(liang)光谱光度。
在(zai)光源处(chu)、检测(ce)(ce)器(qi)及积分(fen)球中使用基本(ben)不吸收深紫外光（DUV）的(de)(de)材料并用氮气净化包括单(dan)色器(qi)和(he)样品(pin)室在(zai)内的(de)(de)所有的(de)(de)光路，可以对165至(zhi)3300nm宽波长范围(wei)的(de)(de)光谱进(jin)行(xing)测(ce)(ce)量（使用选配的(de)(de)DUV型(xing)）。
